| स्ट्रोक मापना(मिमी) | 400*470*358मिमी |
|---|---|
| समग्र आयाम | 917*1400*2230मिमी |
| मशीन वजन | 758किग्रा |
| अधिकतम भाग भार | 160 किग्रा |
| अधिकतम स्वीकार्य जांच त्रुटि | 4.0 मिमी |
| कोड# | 523-480एल |
|---|---|
| एक्स/वाई अक्ष यात्रा | (800*600)मिमी |
| जेड एक्सिस यात्रा | 200 मिमी |
| एक्स/वाई/जेड अक्ष रैखिक पैमाने | रिज़ॉल्यूशन: 0.1um |
| XY अक्ष सटीकता | ≤1.8+एल/200(um) |
| स्ट्रोक मापना(मिमी) | 600*800*600 |
|---|---|
| समग्र आयाम (मिमी) | 1350*1920*2640 |
| मशीन वजन | 1080 किग्रा |
| अधिकतम भाग भार | 500 किलो |
| सॉफ्टवेयर सिस्टम | RATIONAL-DMIS (DCC) माप |
| कोड# | 525-180एक्स |
|---|---|
| एक्स/वाई अक्ष यात्रा | (500*1600) मिमी |
| जेड एक्सिस यात्रा | 300 एमएम |
| एक्स/वाई/जेड अक्ष रैखिक स्केल | रिज़ॉल्यूशन: 0.1um |
| मार्गदर्शन मोड | परिशुद्ध रैखिक गाइड रेल |
| कोड# | 528-180H |
|---|---|
| एक्स/वाई अक्ष यात्रा | (300*400)मिमी |
| जेड एक्सिस यात्रा | 200 मिमी |
| एक्स/वाई/जेड अक्ष रैखिक पैमाने | संकल्पः0.1mm |
| XY अक्ष सटीकता | ≤1.2+एल/200(um) |
| कोड# | 523-280के |
|---|---|
| एक्स/वाई अक्ष यात्रा | (600*500) मिमी |
| जेड एक्सिस यात्रा | 200 मिमी |
| एक्स/वाई/जेड अक्ष रैखिक पैमाने | रिज़ॉल्यूशन: 0.1um |
| XY अक्ष सटीकता | ≤1.8+एल/200(um) |
| कोड# | 523-280एल |
|---|---|
| एक्स/वाई अक्ष यात्रा | (800*600)मिमी |
| जेड एक्सिस यात्रा | 200 मिमी |
| एक्स/वाई/जेड अक्ष रैखिक पैमाने | रिज़ॉल्यूशन: 0.1um |
| XY अक्ष सटीकता | ≤1.8+एल/200(um) |
| कोड# | 528-180H |
|---|---|
| एक्स/वाई अक्ष यात्रा | (300*400)मिमी |
| जेड एक्सिस यात्रा | 200 मिमी |
| एक्स/वाई/जेड अक्ष रैखिक पैमाने | संकल्पः0.1mm |
| XY अक्ष सटीकता | ≤1.2+एल/200(um) |
| कोड# | 525-180एन |
|---|---|
| एक्स/वाई अक्ष यात्रा | (1000*1000)मिमी |
| जेड एक्सिस यात्रा | 300 एमएम |
| एक्स/वाई/जेड अक्ष रैखिक स्केल | रिज़ॉल्यूशन: 0.1um |
| मार्गदर्शन मोड | परिशुद्ध रैखिक गाइड रेल |
| कोड# | 523-180M |
|---|---|
| एक्स/वाई अक्ष यात्रा | (1000*800)मिमी |
| जेड एक्सिस यात्रा | 200 मिमी |
| एक्स/वाई/जेड अक्ष रैखिक पैमाने | रिज़ॉल्यूशन: 0.1um |
| XY अक्ष सटीकता | ≤2.0+एल/200(um) |
