| कोड# | 500-080 |
|---|---|
| लेंस | 0.088X डबल टेलीसेंट्रिक लेंस |
| काम करने की दूरी | 120 मिमी |
| विस्तृत क्षेत्र | Ø116मिमी(94x76) |
| माप की सटीकता | ±4um |
| कोड# | 525-120H |
|---|---|
| संगमरमर कार्यक्षेत्र | (605*450) मिमी |
| ग्लास कार्यक्षेत्र | (456*348)मिमी |
| एक्स/वाई अक्ष यात्रा | (400 * 300) मिमी |
| Z अक्ष यात्रा | 200 मिमी |
| कोड# | 525-320H |
|---|---|
| संगमरमर कार्यक्षेत्र | (605*450) मिमी |
| ग्लास कार्यक्षेत्र | (456*348)मिमी |
| एक्स/वाई अक्ष यात्रा | (400 * 300) मिमी |
| Z अक्ष यात्रा | 200 मिमी |
| Vimea322A | 524-220G |
|---|---|
| एक्स/वाई अक्ष यात्रा | (300*200) मिमी |
| जेड एक्सिस यात्रा | 200 मिमी |
| X/Y/Z 3 अक्ष रैखिक स्केल (मिमी) | रिज़ॉल्यूशन: 0.5um |
| पुनरावृत्ति | 2um |
| कोड# | 500-031 |
|---|---|
| माप सीमा | 300x200x75मिमी |
| न्यूनतम इकाई | 0.1μm |
| क्षमता | 5 किलो |
| उच्च परिशुद्धता मोड | 26x18मिमी |
| कोड# | 523-280के |
|---|---|
| एक्स/वाई अक्ष यात्रा | (600*500) मिमी |
| जेड एक्सिस यात्रा | 200 मिमी |
| एक्स/वाई/जेड अक्ष रैखिक पैमाने | रिज़ॉल्यूशन: 0.1um |
| XY अक्ष सटीकता | ≤1.8+एल/200(um) |
| कोड# | 523-480एल |
|---|---|
| एक्स/वाई अक्ष यात्रा | (800*600)मिमी |
| जेड एक्सिस यात्रा | 200 मिमी |
| एक्स/वाई/जेड अक्ष रैखिक पैमाने | रिज़ॉल्यूशन: 0.1um |
| XY अक्ष सटीकता | ≤1.8+एल/200(um) |
| कोड# | 523-180M |
|---|---|
| एक्स/वाई अक्ष यात्रा | (1500*1200)मिमी |
| जेड एक्सिस यात्रा | 200 मिमी |
| एक्स/वाई/जेड अक्ष रैखिक पैमाने | रिज़ॉल्यूशन: 0.1um |
| XY अक्ष सटीकता | ≤3.0+एल/200(यूएम) |
| कोड# | 521-420जे |
|---|---|
| संगमरमर कार्यक्षेत्र | (650*580) मिमी |
| ग्लास कार्यक्षेत्र | (540*440) मिमी |
| एक्स/वाई अक्ष यात्रा | (500*400)मिमी |
| जेड एक्सिस यात्रा | प्रभावी यात्रा 200 मिमी |
| कोड# | 522-420जी |
|---|---|
| एक्स/वाई अक्ष यात्रा | (300*200) मिमी |
| जेड एक्सिस यात्रा | 200 मिमी |
| एक्स/वाई/जेड अक्ष रैखिक पैमाने | 0.5 उम |
| XY अक्ष सटीकता | ≤2.0+एल/200(um) |
